著者

温 暁青 玉本 英夫 Saluja Kewal K. 樹下 行三

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム

巻号頁・発行日

vol.97, no.224, pp.23-29, 1997-08-19

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CMOS回路に発生する欠陥をよく表せる故障モデルとして, トランジスタ短絡故障モデルが多用されている. トランジスタ短絡故障モデルでは, 1つのMOSトランジスタにつき6つの故障が仮定されるため, 膨大な数のトランジスタ短絡故障を対象にしなけれげならない. 本稿では, 回路を構成するセル内に存在する等価故障の他, セル間に存在する等価故障をも発見することのできる新しい等価故障解析手法を提案した. ベンチマーク回路において実験した結果, 対象故障数を3分の1程度に減らすことができた. 本手法はI_<DDQ>テストによる故障検出と故障診断の効率化に役立つと思われる.