- 著者
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高崎 智也
井上 智生
藤原 秀雄
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム
- 巻号頁・発行日
- vol.96, no.291, pp.1-8, 1996-10-09
- 被引用文献数
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通常の部分スキャン設計では一部のフリップフロップ(FF)をスキャンFFに置き換えてテスト生成容易な順序回路に変換している. 本論文では, FFに限らず順序回路内の信号線をバイパスFF(スキャンとバイパスの機能を有するFF)に置き換え, テスト生成容易な順序回路に変換する拡張部分スキャン設計の方法を提案する. テスト生成容易な順序回路としては組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な内部平衡構造順序回路を対象とする. この拡張部分スキャン設計において, スキャン化による面積オーバーヘッドが最小となるようにフリップフロップや信号線を選択する方法を述べる. さらに, 拡張部分スキャン設計された回路のテスト生成問題を考察する.