- 著者
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須藤 俊夫
中野 健
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.103, no.648, pp.63-68, 2004-01-30
- 参考文献数
- 13
- 被引用文献数
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LSI内部の電源構造の影響を調べるために、オンチップキャパシタを意図的に形成したものとしないものを2種類のCMOSテストLSI(0.25umプロセス)を設計製作し、同時スイッチングノイズと放射ノイズの挙動の変化を実験的に調べた。出力回路の同時スイッチング動作時、電源/グラウンド電位は、電流駆動力が大きくなるほど大きく揺れる傾向を示し、またオンチップキャパシタにより同相に変動することが分かった。次に放射ノイズについては、コア回路動作ではほとんどの高調波に対して低減効果を示したが、出力回路動作では貫通電流分に相当する偶数次高調波の低減効果は顕著であるが、信号の充放電電流から発生すると考えられる奇数次高調波に対しては、低減効果が少ないことが分かった。