著者

呉 奕鋒 西澤 振一郎 橋本 修

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス (ISSN:13452827)

巻号頁・発行日

vol.88, no.12, pp.1159-1166, 2005-12-01

被引用文献数

2

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近年, 電子機器内部に発生する電磁ノイズは, 機器筐体から完全に遮へいされていないため, 外部に放射される漏洩電磁波となり, 電子機器の誤作動を引き起こす電磁妨害波として問題とされている.このような漏洩電磁波を抑制するためには, 電磁ノイズの発生源となる基板表面の電流分布の特定が有効とされている.本論文では基板表面の放射磁界を測定し, 測定された放射磁界から基板表面の放射源である電流分布をグリーン関数法に基づいて推定する手法を提案し, その有効性を確認した.このような逆問題の解析法として, 連立方程式の解法に共役こう配法を利用し, Hansenらが提案したL-curve法を適用することにより, 電流分布の最適値を推定した.そして, 本手法を用いて一例として解析磁界の位置変化によるマイクロストリップライン(MSL)表面の二次元の電流分布について検討した.この結果, 磁界の推定距離が離れるにつれてストリップ上の電流分布のレベルがほぼ等レベルになることが観察できた.また, 測定と解析による電流推定についても比較検討した結果, 推定した電流の傾向が良好に一致することにより, 本提案手法の有効性を確認できた.