著者

佐藤 裕 横谷 砂貴子

出版者

日本育種学会

雑誌

育種学研究 (ISSN:13447629)

巻号頁・発行日

vol.10, no.4, pp.127-134, 2008-12-01

被引用文献数

1

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イネは自殖性作物ではあるが,冷害年に他殖率が上昇し,周囲の他品種との交雑率が上昇することが経験的に知られている.しかしながら,低温による雄性不稔化が交雑率を上昇させることを実証するデータは,これまでに得られていない.そこで本研究では,低温によるイネ花粉の雄性不稔化が交雑率に及ぼす影響を明らかにするために,穂ばらみ期の小胞子初期に低温処理したイネと無処理のイネにおける交雑率の違いを調べた.種子親としてモチ品種「はくちょうもち」,花粉親としてウルチ品種「ほしのゆめ」を供試した.種子親に稔実した種子について,キセニアの観察とSSRマーカーにより交雑の確認を行った.花粉親区の規模を大きくした圃場試験では,花粉親由来のウルチ花粉と種子親由来のモチ花粉をヨード・ヨードカリ溶液染色により識別して空中花粉密度を調べた.人工気象室内での試験では,対照区の交雑率が0.19%であったのに対し,低温処理区では1.28%と6.7倍にまで高まった.圃場試験では,低温処理区における種子親由来の空中花粉密度が,対照区比で約40%にまで減少した.交雑率は,花粉親からの距離1mの対照区では0.02%であったのに対し,低温処理区では5.55%と278倍にまで高まった.花粉親からの距離5mの対照区では,交雑が全く認められなかったのに対し,低温処理区では2.96%の交雑が認められ,花粉親から5m離れていても低温処理により大幅に交雑率が高まることが明らかとなった.さらに,低温処理による稔実率の変化と交雑率との間には,花粉親からの距離1mの低温処理区でr=-0.653^<***>,同5mの低温処理区でr=-0.462^<**>と有意な負の相関関係が認められた.以上の結果により,低温による雄性不稔化で自花の花粉密度と稔実率が低下したイネでは,交雑率が大幅に高まることが実証された.