Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
  1. ホーム
  2. 文献詳細

1 0 0 0 透過電子顕微鏡法による薄膜積層構造の断面観察

著者
高井 裕司 伊藤 糾次
出版者
応用物理学会
雑誌
応用物理 (ISSN:03698009)
巻号頁・発行日
vol.53, no.8, pp.p723-726, 1984-08

言及状況

Twitter (1 users, 1 posts, 0 favorites)

CiNii 論文 -  透過電子顕微鏡法による薄膜積層構造の断面観察 http://t.co/KHKnaFzm90 #CiNii

収集済み URL リスト