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文献詳細
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OA
光透過を利用したSiC PINダイオード内部キャリア分布測定
著者
加藤 正史
前 伸一
米澤 喜幸
加藤 智久
出版者
応用物理学会
雑誌
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2017-02-03
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
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【宣伝】2017年第64回応用物理学会春季学術講演会での加藤関連の発表その1。これは私自身の発表。PiNダイオード内部のキャリアを高い空間分解能で測定したのはたぶん世界初/光透過を利用したSiC PINダイオード内部キャリア分布測定 https://t.co/aGMzofKgd0
収集済み URL リスト
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2017s/subject/15p-F204-10/detail
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