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2 0 0 0 OA 光透過を利用したSiC PINダイオード内部キャリア分布測定

著者
加藤 正史 前 伸一 米澤 喜幸 加藤 智久
出版者
応用物理学会
雑誌
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2017-02-03

1 0 0 0 OA 顕微FCA測定によるSiCの深さ分解ライフタイム測定

著者
(M1)前 伸一 俵 武志 土田 秀一 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2017-02-03