Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
文献ランキング
合計
1ヶ月間
1週間
1日間
文献カレンダー
新着文献
すべて
2 Users
5 Users
10 Users
新着投稿
Yahoo!知恵袋
レファレンス協同データベース
教えて!goo
はてなブックマーク
OKWave
Twitter
Wikipedia
検索
ウェブ検索
ニュース検索
ホーム
文献詳細
1
0
0
0
4H-SiC ウェハの表面ラフネス周辺におけるライフタイムマッピング
著者
長屋 圭祐
平山 貴史
加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2019年第66回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2019-01-25
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
Twitter
(1 users, 1 posts, 0 favorites)
2019年第66回応用物理学会春季学術講演会の加藤関連発表その3。SiCに対する高空間分解能ライフタイムマッピングの話/4H-SiC ウェハの表面ラフネス周辺におけるライフタイムマッピング https://t.co/dsJqeo9i2n
収集済み URL リスト
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2019s/subject/11p-70A-9/detail
(1)