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1 0 0 0 4H-SiC SJ-UMOSFET 内部のキャリアライフタイム分布測定

著者
福井 琢也 長屋 圭祐 俵 武志 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2020年第67回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2020-01-28

言及状況

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2020年第67回応用物理学会春季学術講演会における、うちの研究室の学生の発表。SiCスーパージャンクションMOSFET内部のライフタイムを測ってみました/4H-SiC SJ-UMOSFET 内部のキャリアライフタイム分布測定 https://t.co/Xu3AVAbmz9
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