著者

谷口 謙二郎 宮瀬 紘平 梶原 誠司 ポメランツ イリス レディー スダカー M.

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.102, no.478, pp.85-90, 2002-11-21

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本論文では,多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法を提案する.提案手法は2段階でデータ圧縮を実現する.最初に,ATPGで生成したテスト集合を符号化し,多重スキャンに印加するスキャンインのテスト入力数を削減する.次に,符号化したテスト集合のデータ量を,統計符号化技術によりさらに削減し,それぞれのテストピンに印加するスキャンインベクトル長を削減する.統計的符号化ではハフマン符号を用いる.スキャンインベクトル長の削減により,テストロード時間とテストデータ量が削減される.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法が,圧縮テスト集合のテストデータ量を平均21.5%に削減できることを示す.