著者

梶原 誠司 佐藤 康夫

出版者

一般社団法人 電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ Fundamentals Review (ISSN:18820875)

巻号頁・発行日

vol.1, no.3, pp.3_71-3_77, 2008-01-01 (Released:2011-03-01)

参考文献数

21

被引用文献数

1

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半導体製造プロセスの微細化やSoC(System-on-a-Chip)の高速化に伴い,遅延故障のテストの重要性が高まっている.論理回路の遅延故障のテストには,高精度な測定を可能にするDFT(Design for Testability)やテストパターン印加の仕組み,フォールスパスを考慮し故障の伝搬経路長を考慮したATPG(Automatic Test Pattern Generation:自動テストパターン生成),SoCのテストでは,高速クロック生成,複数クロックドメインへの対応等の総合的アプローチが必要である.本論文では,基本となる遅延故障のテスト手法を解説する.

著者

谷口 謙二郎 宮瀬 紘平 梶原 誠司 イリスポメランツ スダカーM レディー

出版者

一般社団法人情報処理学会

雑誌

情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) (ISSN:09196072)

巻号頁・発行日

vol.2002, no.113, pp.85-90, 2002-11-27

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本論文では、多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法を提案する。提案手法は2段階でデータ圧縮を実現する。最初に、ATPGで生成したテスト集合を符号化し、多重スキャンに印加スキャンインのテスト入力数を削減する。次に、符号化したテスト集合のデータ量を、統計符号化技術によりさらに削減し、それぞれのテストピンに印加するスキャンインベクトル長を削減する。統計的符号化ではハフマン符号を用いる。スキャンインベクトル長の削減により、テストロード時間とテストデータ量が削減される。ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では、提案手法が、圧縮テスト集合のテストデータ量を平均21.5%に削減できることを示す。In this paper we propose a new method of test date compression for multiple scan chain designs. The proposed method consists of two phase of data compression. In the first phase, ATPG test vectors applied to multiple scan chains are encoded to reduce the number of test input pins and thus reduce the test data volume. In the second phase, the encoded test vectors are compressed further using statistical encoding to reduce the length of the test sequences applied to each test pin. This reduces test loading time and test data volume. Experimental results for large ISCAS-89 benchmark circuits show that the proposed method reduced the test date volume to 21.5% on average.

著者

谷口 謙二郎 梶原 誠司 イリス ポメランツ スカーダ レディ

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.101, no.467, pp.49-53, 2001-11-22

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本論文では統計的符号化を使って得られたテスト集合に対するテストデータ圧縮手法について述べる.本手法はまず, テストベクトルを構成する入力値のうち不定値に変えても故障検出率が下がらないものを判定する.次に, 見つかった不定値に, 統計的符号化の効果を最大にするように, 適切な論理値を再び割り当てる.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験では, 本手法がテストデータ量を元のテストデータの40%以下にまで減らすことを示す.

著者

梶原 誠司 樹下 行三 ポメランツ イリス レディ スダーカ M.

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-情報処理 (ISSN:09151915)

巻号頁・発行日

vol.82, no.7, pp.888-895, 1999-07

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製造した回路のタイミングに関するテストの重要性が高まっている. その一方で, ロバスト依存パスや機能的活性化不能パスのように, 遅延故障のテスト不要なパスが多く存在することがわかってきた. パス遅延故障のテスト生成において, テスト不要なパスを前もって指摘することは, テスト生成の効率化に重要な役割を果たす. 本論文は, 高速にロバスト依存パスと機能的活性化不能パス等のテスト不要なパスを識別する手法を提案する. パス数の多い回路に対するテスト不要パスの識別には従来多大な処理時間を要していたが, 提案手法は回路の局所的な解析に基づくため高速に処理可能である. 実験では, 本手法は従来手法と比較して短時間で計算でき, テスト不要なパスの判定能力はほぼ同等であることを示す. また, 従来手法ではパス数が10^<20>以上あるc6288を現実的には扱うことができなかったが, 本手法により99%以上のパスはテスト不要であることを示す.

著者

谷口 謙二郎 梶原 誠司 ポメランツ イリス レディ スダーカ

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.101, no.476, pp.49-53, 2001-11-22

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本論文では統計的符号化を使って得られたテスト集合に対するテストデータ圧縮手法について述べる.本手法はまず, テストベクトルを構成する入力値のうち不定値に変えても故障検出率が下がらないものを判定する.次に, 見つかった不定値に, 統計的符号化の効果を最大にするように, 適切な論理値を再び割り当てる.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験では, 本手法がテストデータ量を元のテストデータの40%以下にまで減らすことを示す.

著者

竹岡 貞巳 太田 光保 梶原 誠司 村上 敦 ポメランツ イリス レディー スダーカ・M.

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.100, no.620, pp.25-32, 2001-02-02

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製造上の欠陥に起因してフリップフロップ間に生じるタイミング的な故障にはセットアップエラーを生じる故障とホールドエラーを生じる故障の2通りがある。本論文では、ホールドエラーを生じる故障であるショートパスディレイ故障という概念について述べる。またその故障モデル、ロバストおよびノンロバストテストにおけるパス活性化条件を提案し、ノンロバストテストにおけるテスト生成手法の実験結果を示す。

著者

梶原 誠司 樹下 行三 ポメランツ イリス レディ スダーカ M.

出版者

一般社団法人情報処理学会

雑誌

情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告

巻号頁・発行日

vol.97, no.17, pp.1-8, 1997-02-14

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製造した回路のタイミング検証の重要性が高まっている一方で,ロバスト依存パスや機能的活性化不能パスのようなパス遅延故障のテストにおいてテスト不要であるパスを多く含む回路が存在することがわかってきた.テスト不要なパスをテスト生成の前に指摘し,テスト生成の対象としないことは,パス遅延故障のテスト生成の効率化に役立つ.本論文は,高速にロバスト依存バスと機能的活性化不能パスを識別する手法を提案する.提案手法は回路の局所的な解析に基づくため,従来多大な処理時間を要していたパス数の多い回路も高速に処理可能である.実験では,本手法は従来手法と比較して短時間で計算でき,テスト不要なパスの判定能力はほぼ同等であることを示す.また,従来手法ではパス数が10^<20>以上あるc6288を現実的には扱うことができなかったが,本手法により99%以上のパスはテスト不要であることを示す.

著者

梶原 誠司 ポメランツ イリス レディ スダーカ M

出版者

一般社団法人情報処理学会

雑誌

情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告

巻号頁・発行日

vol.99, no.12, pp.67-72, 1999-02-04

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本論文では, 組合せ回路のトランジション故障を対象としたテスト生成におけるテストパターン圧縮手法を提案する. トランジション故障の検出には2つのテストパターンが必要であるが, 提案する手法は, 典型的なテスト圧縮手法の動的圧縮と静的圧縮を2パターンテストに拡張したものである. 動的圧縮については, 無駄な信号値の割当をできるだけ少なくする手法である。また, 静的圧縮については, 不要なテストベクトルが与えられたテスト系列に完全に含まれないようにする新しい手法である。ISCASのベンチマーク回路に対する実験では, 動的圧縮と静的圧縮のどちらにおいても提案手法が有効であることを示す。

著者

谷口 謙二郎 宮瀬 紘平 梶原 誠司 ポメランツ イリス レディー スダカー M.

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.102, no.478, pp.85-90, 2002-11-21

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本論文では,多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法を提案する.提案手法は2段階でデータ圧縮を実現する.最初に,ATPGで生成したテスト集合を符号化し,多重スキャンに印加するスキャンインのテスト入力数を削減する.次に,符号化したテスト集合のデータ量を,統計符号化技術によりさらに削減し,それぞれのテストピンに印加するスキャンインベクトル長を削減する.統計的符号化ではハフマン符号を用いる.スキャンインベクトル長の削減により,テストロード時間とテストデータ量が削減される.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法が,圧縮テスト集合のテストデータ量を平均21.5%に削減できることを示す.