著者

大毛利 健治

出版者

公益社団法人 応用物理学会

雑誌

応用物理 (ISSN:03698009)

巻号頁・発行日

vol.91, no.4, pp.230-234, 2022-04-01 (Released:2022-04-01)

参考文献数

10

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電子デバイス向け電気特性評価の環境構築と,少し高度な電気的雑音について「計測」と「除去」という観点から解説します.また,計測自動化や極低温環境に関して,トランジスタや不揮発性メモリにおける雑音計測の具体例を示しながら紹介します.