著者

平森 智幸 伊藤 元剛 吉川 正雄 廣瀬 明夫 小林 紘二郎

出版者

社団法人エレクトロニクス実装学会

雑誌

エレクトロニクス実装学会誌 (ISSN:13439677)

巻号頁・発行日

vol.6, no.6, pp.503-508, 2003-09-01

被引用文献数

5 6

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本研究では,無電解Ni-Pめっき上にさまざまな厚さのAuめっきを施した基板にBGA対応のSn-AgはんだボールおよびSn-Ag-Cuはんだボールを接合し,リフロー後および高温放置後における界面構造の観察および接合強度の測定を行った。Sn-Ag-Cuはんだの場合,Auめっき厚が250nmと500nmの試料では界面にPリッチ層が形成されたが,Auめっき厚の薄い試料では形成されなかった。一方,Sn-Agはんだの場合,Auめっき厚によらず界面にPリッチ層が形成されていた。どちらのはんだにおいてもAuめっき厚の厚い試料では強度試験において界面で破断が生じたので,Pリッチ層の形成は界面強度の低下につながると考えられる。Sn-Ag-Cuはんだでは50nmのAuめっき厚さが最適であった。

著者

近藤 未希 赤田 裕亮 廣瀬 明夫 小林 紘二郎

出版者

一般社団法人 溶接学会

雑誌

溶接学会全国大会講演概要 平成18年度秋季全国大会

巻号頁・発行日

pp.207, 2006 (Released:2006-11-09)

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非耐熱部品の一括実装を実現するためには、実装温度100℃以下の低融点はんだの開発が必要である。本研究では、Bi-In-Sn合金に着目し、溶融特性、濡れ性、機械的特性、継手強度の観点から、低融点はんだとして適用可能な合金組成の検討を行った。