著者

加藤 秀起 津坂 昌利 小山 修司 前越 久

出版者

公益社団法人 日本放射線技術学会

雑誌

日本放射線技術学会雑誌 (ISSN:03694305)

巻号頁・発行日

vol.54, no.5, pp.615-623, 1998

参考文献数

16

被引用文献数

1 1

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An x-ray spectrum measured by a semiconductor detector is different from the incident x-ray spectrum to the detector, because of distortions caused by energy-dependent responses of the detector and statistical and electrical fluctuations in the signal amplifying process. In this paper, we discuss a method for correcting the statistical and electrical fluctuations of the x-ray spectrum, using the unfolding method with a function based on the Gaussian distribution. Unfolding the measured x-ray spectrum by this method, K-α and K-β characteristic x-rays were clearly separated into two line spectra, and energy resolution was improved. The unfolding method, when used to supplement the stripping method that is generally applied to x-ray spectra correction, will provide enhanced correction of x-ray spectra.

著者

津坂 昌利 小山 修司 前越 久 加藤 秀起

出版者

公益社団法人日本放射線技術学会

雑誌

日本放射線技術學會雜誌 (ISSN:03694305)

巻号頁・発行日

vol.50, no.8, 1994-08-01

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診断用X線のような低エネルギー領域の一次X線スペクトル測定では, 細いX線ビームを検出面中央に垂直に入射して測定する.このためGe結晶は直径10mm, 厚さ7mm程度あれば問題はない.今回検討したクローズドエンド型は, 大結晶を有し, 分解能はやや劣るものの, 診断用X線, 漏洩X線, 室内散乱線等のスペクトル測定用としても使用できる可能性がある.しかし, 測定した波高スペクトルは必ず補正してX線エネルギースペクトルを求める必要がある.