著者
許 蛍雪 崔 珍赫 宮崎 隆行 川口 博 桜井 貴康
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 (ISSN:09135685)
巻号頁・発行日
vol.103, no.384, pp.65-70, 2003-10-24

高リーク世代において、Self-Timed Cut-Offに基づくブロックレベル活性化法は、待機時のみならず動作時においてもリーク電流を減らすことができ有効である。その基本動作は統計情報に基づいている。Self-Timed Cut-Offスイッチを使い、一定時間動いてないブロックをスリープモードに入れる。本提案の有効性を8ビットRISCマイクロプロセッサのVerilog HDLによるシミュレーションと々もに、0.25umのSOIプロセスで試作された64ビットのcarry look-head 加算器の測定を通して検証した。