著者

伊部 英史 新保 健一 谷口 斉 鳥羽 忠信

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.109, no.318, pp.29-34, 2009-11-25

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メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルールまでの予測、電子システムへの影響と対策について概括する。