著者

貝塚 悠祐 津村 幸治

出版者

自動制御連合講演会

雑誌

自動制御連合講演会講演論文集 第51回自動制御連合講演会

巻号頁・発行日

pp.288, 2008 (Released:2009-04-14)

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量子系の制御法の研究が活発に行われているが,量子スピン系を量子情報技術へ応用する際には,情報を表現するq-bitに対応した原子のスピンの向きを自由に制御する必要がある.特に純粋状態の中でも特別な状態である固有状態への収束が重要になる.本論文では,連続測定下におけるN次元スピン量子系を対象に,状態の純度が時間とともに減少する領域が2次形式で書けることを示し,この領域と測定効率の関係を明らかにする.