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1 0 0 0 放射光軟X線吸収分光法による播州駄菓子かりんとうの劣化評価--内部脂質部と表面糖質部の酸化状態分析

著者
鎌本 啓志 村松 康司 天野 治
出版者
アグネ技術センタ-
雑誌
X線分析の進歩 (ISSN:09117806)
巻号頁・発行日
no.40, pp.307-315, 2009-03