著者

高見 知秀

出版者

公益社団法人 日本表面科学会

雑誌

表面科学 (ISSN:03885321)

巻号頁・発行日

vol.25, no.6, pp.363-369, 2004-06-10 (Released:2008-05-02)

参考文献数

30

被引用文献数

1

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Analyses and assignments of reflection high-energy electron diffraction patterns of Si(100) surfaces are demonstrated for the practice. Several check points for the RHEED analysis are described.