著者

福沢 仁之 FUKUSAWA Hitoshi 加藤 めぐみ KATO Megumi 山田 和芳 YAMADA Kazuyoshi 藤原 治 FUJIWARA Osamu 安田 喜憲 YASUDA Yoshinori

出版者

名古屋大学年代測定資料研究センター 天然放射性元素測定小委員会

雑誌

名古屋大学加速器質量分析計業績報告書

巻号頁・発行日

vol.9, pp.5-17, 1998-03 (Released:2010-05-18)

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第10回名古屋大学タンデトロン加速器質量分析計シンポジウム(平成9 (1997)年度)報告 「最新型タンデトロン加速器質量分析計(加速器年代測定システム)による高精度・高分解能14C年代測定の利用分野・方法の開拓(II)」

著者

FUJIWARA Osamu

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

IEICE transactions on communications (ISSN:09168516)

巻号頁・発行日

vol.79, no.4, pp.483-489, 1996-04-25

被引用文献数

90

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It is well recognized that the electromagnetic interference due to indirect electrostatic discharge (ESD) is not always proportional to the ESD voltage and also that the lower voltage ESD sometimes causes the more serious failure to high-tech information equipment. In order to theoretically examine the peculiar phenomenon, we propose an analytical approach to model the indirect ESD effect. A source ESD model is given here using the spark resistance presented by Rompe and Weizel. Transient electromagnetic fields due to the ESD event are analyzed, which are compared with the experimental data carefully given by Wilson and Ma. A model experiment for indirect ESD is also conducted to confirm the validity of the ESD model presented here.