- 著者
-
黒田 直史
- 出版者
- 東京大学
- 雑誌
- 基盤研究(A)
- 巻号頁・発行日
- 2020-04-01
本研究では,反陽子の荷電半径と呼ばれる電気的な広がり,つまり反陽子の大きさを測定する。通常の水素原子に含まれる陽子の荷電半径は,近年これまで知られていた値より小さかった可能性が高まっている。陽子荷電半径問題とよばれるこの問題に反物質の側から迫るとともに,これまで不可能だった陽子と反陽子の大きさの比較を通して物質と反物質の間のCPT対称性のテストを行う。そのために,水素原子ビームを用いて実験装置と手法の開発を進めて十分な精度を得たのち,CERNで供給される反水素原子ビームを用いてマイクロ波分光を行う。反水素原子のラムシフトを高精度で測定することで,反陽子の荷電半径を世界で初めて決定する。