多層量子井戸構造の作製と電子プローブ表面 EXAFS による評価 - 文献詳細 - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 多層量子井戸構造の作製と電子プローブ表面 EXAFS による評価

著者: 中村勝吾
出版者: 大阪大学
雑誌: 特定研究
巻号頁・発行日: 1985

2011-06-14 07:05:05
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https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-60222030/

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