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半導体設計支援ソフトウェアの開発
RT @vAwIKvCTxnusWOT: J-STAGE Articles - 半導体設計支援ソフトウェアの開発 https://t.co/PGw611fqMM #山内寛行 #斎藤
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A Study on Time Dependent Variations Caused Rare-Event Fail Bit Count Prediction Analysis Methods for Nano-Meter Scaled SRAM Reliability Designs
RT @vAwIKvCTxnusWOT: Dr. Thetis Sohma Worawit https://t.co/77dxopzpdo #山内寛行 #アドバイザー #博士論文
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半導体設計支援ソフトウェアの開発
J-STAGE Articles - 半導体設計支援ソフトウェアの開発 https://t.co/5YFjKikSxk
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0.5V単一電源動作を実現するための回路技術
CiNii 論文 - 0.5V単一電源動作を実現するための回路技術 https://t.co/yOMqN5QalE #CiNii
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デジタル家電向け混載メモリの現状と将来展望 : SoCの構造改革に向けたチャレンジ(新メモリ技術, メモリ応用技術, 一般, ISSCC特集2 DRAM)
CiNii 論文 - デジタル家電向け混載メモリの現状と将来展望 : SoCの構造改革に向けたチャレンジ https://t.co/50ZSNMPCz3 #CiNii
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0.8V/100MHz動作を実現するための低消費電力SRAMセルアーキテクチャーの提案
CiNii 論文 - 0.8V/100MHz動作を実現するための低消費電力SRAMセルアーキテクチャーの提案 https://t.co/Mird8uSPD4 #CiNii
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0.8V/100MHz動作を実現するための低消費電力SRAMセルアーキテクチャーの提案
CiNii 論文 - 0.8V/100MHz動作を実現するための低消費電力SRAMセルアーキテクチャーの提案 https://t.co/Mird8uBeLw #CiNii
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SRAMの閾値電圧ばらつきによる書き込みマージンへの影響に関する研究
J-STAGE Articles - SRAMの閾値電圧ばらつきによる書き込みマージンへの影響に関する研究 https://t.co/ZxQu7K8X6K
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ローカルデータバスに適した電荷再利用型バスアーキテクチャーの提案
RT @KanKanKanTTe1: CiNii 論文 - ローカルデータバスに適した電荷再利用型バスアーキテクチャーの提案 https://t.co/LHDpNzvr5g #CiNii
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ローカルデータバスに適した電荷再利用型バスアーキテクチャーの提案
CiNii 論文 - ローカルデータバスに適した電荷再利用型バスアーキテクチャーの提案 https://t.co/LHDpNzvr5g #CiNii
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半導体設計支援ソフトウェアの開発
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デジタル家電向け混載メモリの現状と将来展望 : SoCの構造改革に向けたチャレンジ(新メモリ技術, メモリ応用技術, 一般, ISSCC特集2 DRAM)
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A Study on Time Dependent Variations Caused Rare-Event Fail Bit Count Prediction Analysis Methods for Nano-Meter Scaled SRAM Reliability Designs
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ローカルデータバスに適した電荷再利用型バスアーキテクチャーの提案
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