著者

落合 渉 堤 利幸 山崎 浩二 冨澤 一隆

出版者

一般社団法人情報処理学会

雑誌

情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) (ISSN:09196072)

巻号頁・発行日

vol.2002, no.113, pp.67-72, 2002-11-27

参考文献数

6

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本稿では、CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法を提案する。CPLDはPLAブロックが相互に接続されたデバイスであり、設計変更が容易なため広く用いられている。これまでCPLDのクロスポイント故障および縮退故障の検出に関する研究は行われてきたが、故障診断に関しては十分な研究がなされていない。本論文では診断用のコンフィギュレーションを調査し、CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法を提案した。結果として8回のコンフィギュレーションで100%の故障が診断可能であることを示す。4回のコンフィギュレーションでは98.5%の故障が診断可能であった。This paper describes an approach to locate crosspoint faults and stuck-at faults in a PLA block of CPLD. CPLD is a configurable device in which PLA blocks are connected mutually. Since the design change is easy, CPLD is widely used. Although research on detection of crosspoint faults and stuck-at faults of CPLD has been done so far, sufficient research on fault location has not been shown. We investigate configurations for fault location of the PLA block of CPLD and propose an approach to locate crosspoint faults and stuck-at faults. It is shown that all faults can be located by eight times of configurations using the proposed approach. The 98.5% of the faults can be located by four times of configurations.