著者

谷口 謙二郎 梶原 誠司 イリス ポメランツ スカーダ レディ

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.101, no.467, pp.49-53, 2001-11-22

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本論文では統計的符号化を使って得られたテスト集合に対するテストデータ圧縮手法について述べる.本手法はまず, テストベクトルを構成する入力値のうち不定値に変えても故障検出率が下がらないものを判定する.次に, 見つかった不定値に, 統計的符号化の効果を最大にするように, 適切な論理値を再び割り当てる.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験では, 本手法がテストデータ量を元のテストデータの40%以下にまで減らすことを示す.