著者
谷口 謙二郎 宮瀬 紘平 梶原 誠司 イリスポメランツ スダカーM レディー
出版者
一般社団法人情報処理学会
雑誌
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) (ISSN:09196072)
巻号頁・発行日
vol.2002, no.113, pp.85-90, 2002-11-27

本論文では、多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法を提案する。提案手法は2段階でデータ圧縮を実現する。最初に、ATPGで生成したテスト集合を符号化し、多重スキャンに印加スキャンインのテスト入力数を削減する。次に、符号化したテスト集合のデータ量を、統計符号化技術によりさらに削減し、それぞれのテストピンに印加するスキャンインベクトル長を削減する。統計的符号化ではハフマン符号を用いる。スキャンインベクトル長の削減により、テストロード時間とテストデータ量が削減される。ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では、提案手法が、圧縮テスト集合のテストデータ量を平均21.5%に削減できることを示す。In this paper we propose a new method of test date compression for multiple scan chain designs. The proposed method consists of two phase of data compression. In the first phase, ATPG test vectors applied to multiple scan chains are encoded to reduce the number of test input pins and thus reduce the test data volume. In the second phase, the encoded test vectors are compressed further using statistical encoding to reduce the length of the test sequences applied to each test pin. This reduces test loading time and test data volume. Experimental results for large ISCAS-89 benchmark circuits show that the proposed method reduced the test date volume to 21.5% on average.
著者
谷口 謙二郎 梶原 誠司 イリス ポメランツ スカーダ レディ
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 (ISSN:09135685)
巻号頁・発行日
vol.101, no.467, pp.49-53, 2001-11-22

本論文では統計的符号化を使って得られたテスト集合に対するテストデータ圧縮手法について述べる.本手法はまず, テストベクトルを構成する入力値のうち不定値に変えても故障検出率が下がらないものを判定する.次に, 見つかった不定値に, 統計的符号化の効果を最大にするように, 適切な論理値を再び割り当てる.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験では, 本手法がテストデータ量を元のテストデータの40%以下にまで減らすことを示す.