著者
平野 大輔 史 又華 戸川 望 柳澤 政生
出版者
一般社団法人情報処理学会
雑誌
情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] (ISSN:09196072)
巻号頁・発行日
vol.2015, no.10, pp.1-5, 2015-05-07

近年,暗号回路への攻撃手法として,故障解析が脅威となっている.回路への故障の発生方法には,レーザー照射や電圧変動,クロックグリッチなどの方法があるが,実装や制御の容易性からクロックグリッチが注目されている.対策手法として,回路を三重化して比較する空間冗長化手法や,同じ処理を 2 回行って比較する時間冗長化手法が存在する.しかし,これらの手法は面積オーバーヘッド或いは時間オーバーヘッドが大きいという問題点がある.本稿では,故障解析の誘因となるクロックグリッチを高速に検出可能で,面積オーバーヘッドを 4.9% に抑えた AES 暗号回路を提案する.

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CiNiiで「時間オーバー」を検索しました. 検索結果:クロックグリッチに基づく故障解析に耐性を持つAES暗号回路 http://t.co/M5nHR4FJGV

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