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1 0 0 0 軟X線吸収発光分光法によるSi02/Si界面電子状態のサイト選択的観測 (第24回表面科学講演大会論文特集(3))

著者
山下 良之 山本 達 向井 孝三
出版者
日本表面科学会
雑誌
表面科学 (ISSN:03885321)
巻号頁・発行日
vol.26, no.9, pp.514-517, 2005-09
被引用文献数
1

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編集者: Tondenh

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