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4H-SiC埋め込みN/Vコドープによる短ライフタイム層の観測
著者
長屋 圭祐
平山 貴史
俵 武志
村田 晃一
土田 秀一
加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2019年第66回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2019-01-25
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
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2019年第66回応用物理学会春季学術講演会加藤関連発表その3。SiCバイポーラデバイスの性能最適化のためのライフタイムコントロール技術(Vドープ)の評価/4H-SiC埋め込みN/Vコドープによる短ライフタイム層の観測 https://t.co/rifpr9uxrV
収集済み URL リスト
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2019s/subject/11p-70A-10/detail
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