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1 0 0 0 OA 研究速報 : 熱刺激電流によるMNOSメモリーデバイスのトラップ準位の測定

著者
勝部 昭明 安達 芳夫 生駒 俊明
出版者
東京大学生産技術研究所
雑誌
生産研究 (ISSN:0037105X)
巻号頁・発行日
vol.25, no.12, pp.535-538, 1973-12-01