著者

山田 明 三宅 優 寺邊 正大 橋本 和夫 加藤 寧

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. NS, ネットワークシステム (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.108, no.203, pp.11-16, 2008-09-11

参考文献数

14

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メールやWebなど様々なプロトコルにおける名前解決の基盤としてDomain Name System (DNS)が利用されている.そこで,DNS監視によって,それらのプロトコルにおけるクライアントの振る舞いを監視できる可能性が示されている.これまで提案されてきた方式は,企業LAN規模のようなクライアント数の少ないネットワークを監視する方式であり,ISPのようなクライアント数の多いネットワークへの適用が困難である.本稿では,クライアント数が多いネットワークにおいても,異常なクライアントを検知する方式を提案する.提案方式は,障害の原因となりやすい流量の多いクライアントのみを選別して判定処理を行うことによって,対象クライアントを個別に監視するのに要する総計算量や総記憶量を削減できる.実DNSサーバの6ヶ月間の通信による評価から,スパムメール送受信などの異常を検知できることを示す.

著者

津田 英隆 白井 英大 寺邊 正大 橋本 和夫 篠原 歩

出版者

一般社団法人 電気学会

雑誌

電気学会論文誌D(産業応用部門誌) (ISSN:09136339)

巻号頁・発行日

vol.129, no.12, pp.1201-1211, 2009-12-01 (Released:2009-12-01)

参考文献数

11

被引用文献数

4 5

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The conventional semiconductor yield analysis is a hypothesis verification process, which heavily depends on engineers' knowledge. Data mining methodology, on the other hand, is a hypothesis discovery process that is free from this constraint. This paper proposes a data mining method for semiconductor yield analysis, which consists of the following two phases: discovering hypothetical failure causes by regression tree analysis and verifying the hypotheses by visualizing the measured data based on engineers' knowledge. It is shown, through experiment under the real environment, that the proposed method detects hypothetical failure causes, which were considered practically impossible to detect, and that yield improvement is achieved by taking preventive actions based on the detected failure causes.