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1 0 0 0 岩石の蛍光X線による定量分析:Siの二次X線効果

著者
柳 哮 中田 節也 前田 俊一 方代 赫 山口 勝
出版者
一般社団法人 日本地質学会
雑誌
日本地質学会学術大会講演要旨 (ISSN:13483935)
巻号頁・発行日
vol.1984, 1984