著者

石井 真史

出版者

公益社団法人 日本分析化学会

雑誌

分析化学 (ISSN:05251931)

巻号頁・発行日

vol.61, no.10, pp.827-832, 2012-10-05 (Released:2012-11-06)

参考文献数

10

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1000℃ を超える高温における物理・化学特性を分析する新しい手法として,火を用いる複素インピーダンススペクトロスコピー(OTD-CIS, over thousand degree centigrade complex impedance spectroscopy)を提案する.火は電気伝導を持つため,それを加熱と共に電気プローブの目的に使用するのが基本的アイディアである.一方で火は理想的な導体ではないため,直流と交流特性のそれぞれを考慮して,条件の選択や解析上の処理が必要になる.直流では,火の整流性の影響を回避するため,バイアスを印加して電流-電圧特性が線形となる領域を選択する.交流では,火の正イオンの応答特性を除去するため,差分解析を行う.これらの措置により,酸化アルミのOTD-CISスペクトルが得られた.スペクトルの解析により,抵抗率はOTDでも減少し続けるのに対し,誘電率は室温から変化しないことを示した.

著者

石井 真史

出版者

公益社団法人 日本顕微鏡学会

雑誌

電子顕微鏡 (ISSN:04170326)

巻号頁・発行日

vol.38, no.1, pp.19-23, 2003

著者

石井 真史 上杉 文彦 小澤 哲也

出版者

日本結晶学会

雑誌

日本結晶学会誌 (ISSN:03694585)

巻号頁・発行日

vol.62, no.1, pp.35-42, 2020-02-29 (Released:2020-03-06)

参考文献数

16

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Along with the advancement of measurement technologies, a large amount of experimental crystallographic data can be obtained easily, so that objective and rapid analysis suitable for batch process is strongly required. This article introduces recent research on objective and rapid analysis of crystal structure using X-rays or electron beams. For one-dimensional X-ray diffraction pattern, non-negative linear regression (NNLS) using diffraction patterns provided by public database has achieved more objective and faster analysis than conventional manual works. With regard to two-dimensional electron and X-ray diffraction, good objective and rapid analysis was realized for several types of materials by using artificial intelligence (AI) based on convolutional neural network. On the other hand, the sparsity inherent in the diffraction pattern was found to cause a lack of information, and universal applicability of material property prediction using AI that depends on training data is still open to question. However, the fact that AI itself has the potential ability to solve complex images, a breakthrough technology for universal two-dimensional objective and rapid analysis might be found in progressing research.

著者

石井 真史

出版者

公益社団法人 日本顕微鏡学会

雑誌

電子顕微鏡 (ISSN:04170326)

巻号頁・発行日

vol.38, no.1, pp.19-23, 2003-03-31 (Released:2009-06-12)

参考文献数

16