著者

福井 正博 築山 修治

出版者

立命館大学

雑誌

基盤研究(C)

巻号頁・発行日

2011

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集積回路技術の進展に伴い,回路が大規模化・複雑化すると共に,物理変動によるタイミング動作保証が困難化している.本研究課題は,次世代の集積回路に対して,製造ばらつき,電源電圧,熱変動,トランジスタの経年劣化を考慮し,チップレベルでのタイミング解析を高速に行う技術の確立を目指し,(A) パワーゲーティングによるラッシュカレントに関する信頼性ホットスポットの見える化システム,(B) トランジスタの発熱,電源配線のIRドロップの高速統計的解析技術の解明,(C) NBTI などの経年劣化と製造ばらつきに起因する遅延ばらつきを統一的に取り扱うことができる遅延モデルと統計的静的遅延解析手法を完成した.