著者
木下 是雄 横田 英嗣
出版者
公益社団法人 応用物理学会
雑誌
応用物理 (ISSN:03698009)
巻号頁・発行日
vol.34, no.11, pp.782-794, 1965-11-10 (Released:2009-02-09)
参考文献数
87
被引用文献数
1

After describing briefly the principle and techniques of ellipsometry, the authors review the recent developments in ellipsometric studies of films and surfaces with comments on future possibilities. The items covered are: determination of optical constants, observation of transition layers, adsorption studies, work on oxidation and corrosion of solid surfaces, and others.

言及状況

外部データベース (DOI)

Twitter (1 users, 1 posts, 0 favorites)

偏光に関してググってたら半世紀以上前に応用物理に掲載された木下是雄先生のレポートが。「偏光」の応用は父子二代に渡る「お家芸」だったのか、と。>「偏光解析による表面と薄膜の研究」 https://t.co/Kt9zMJDvES(PDF)

Wikipedia (1 pages, 1 posts, 1 contributors)

収集済み URL リスト