著者
奥村 次徳
出版者
公益社団法人 応用物理学会
雑誌
応用物理 (ISSN:03698009)
巻号頁・発行日
vol.68, no.9, pp.1054-1059, 1999-09-10 (Released:2009-02-05)
参考文献数
34

半導体工学における最も本質的な概念であり,最も重要な技術である不純物ドーピングについて,その基礎を講義する.ドーピングは,母体を構成ずる元素を,原子価の異なる元素で置換することにより,キャリア密度をはじめとする物性をコントロールする技術である.本稿では,不純物原子に対する水素原子様モデルについて述べ,比誘電率・有効質量との関係を論じる.さらに,高濃度ドーピングやドーパントの不活性化などの諸問題について概説する.

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impurity centre は 不純物中心 意味(指し示すもの)と使用例は下記URL https://www.ieice-hbkb.org/files/09/09gun_03hen_01.pdf 22頁 図1-15 22~23頁の説明 https://www.jstage.jst.go.jp/article/oubutsu1932/68/9/68_9_1054/_pdf 10 ...

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〔半導体への不純物ドーピング 《基礎講座》PDF〕 https://t.co/SWmnDKHnhI “母体を構成ずる元素を、原子価の異なる元素で置換することにより、キャリア密度をはじめとする物性をコントロールする技術である” →これか。 https://t.co/fsJcczDTbO

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