著者

梶原 誠司 樹下 行三 ポメランツ イリス レディ スダーカ M.

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-情報処理 (ISSN:09151915)

巻号頁・発行日

vol.82, no.7, pp.888-895, 1999-07

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製造した回路のタイミングに関するテストの重要性が高まっている. その一方で, ロバスト依存パスや機能的活性化不能パスのように, 遅延故障のテスト不要なパスが多く存在することがわかってきた. パス遅延故障のテスト生成において, テスト不要なパスを前もって指摘することは, テスト生成の効率化に重要な役割を果たす. 本論文は, 高速にロバスト依存パスと機能的活性化不能パス等のテスト不要なパスを識別する手法を提案する. パス数の多い回路に対するテスト不要パスの識別には従来多大な処理時間を要していたが, 提案手法は回路の局所的な解析に基づくため高速に処理可能である. 実験では, 本手法は従来手法と比較して短時間で計算でき, テスト不要なパスの判定能力はほぼ同等であることを示す. また, 従来手法ではパス数が10^<20>以上あるc6288を現実的には扱うことができなかったが, 本手法により99%以上のパスはテスト不要であることを示す.