著者

下條 清史 坂本 一憲 鷲崎 弘宜 深澤 良彰

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.111, no.481, pp.97-102, 2012-03-06

参考文献数

7

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Fault-Localizationはテスト結果からテスト失敗の原因となるコードの箇所を推定する手法で,デバッグ作業の支援に有効である。しかし、テストケースが十分でない場合,バグを十分に局所化できないため、Fault-Localization結果が信頼できない.本稿では,実際の開発形態に沿ったインクリメンタルな運用のもとでプログラム構造を用いてFault-Localization結果を改善する手法を提案する.Fault-Localization結果のトップランキングの高精度化とバグの修正を繰り返していく手法により,効率的なデバッギングの実現可能性を示す.