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2 0 0 0 OA GaN基板上GaNホモエピ層に対する過剰キャリアライフタイム評価

著者
(B)浅田 貴斗 市川 義人 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2017-02-03

言及状況

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【宣伝】2017年第64回応用物理学会春季学術講演会での加藤関連の発表その４。名大と豊田中研とのGaN評価に関する共同研究。私は名工大と名大両方の所属としての発表です/GaN基板上GaNホモエピ層に対する過剰キャリアライフタイム評価 https://t.co/l3YVqYMSiM
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