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2 0 0 0 OA GaN基板上GaNホモエピ層に対する過剰キャリアライフタイム評価

著者
(B)浅田 貴斗 市川 義人 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2017-02-03

1 0 0 0 GaNエピ膜のTR-PL遅い減衰成分におけるSi濃度依存

著者
加藤 正史 浅田 貴斗 朱 帥 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹
出版者
応用物理学会
雑誌
2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会
巻号頁・発行日
2019-07-10

1 0 0 0 GaN基板上n型およびp型エピ層のキャリア再結合の比較

著者
(M1)朱 帥 浅田 貴斗 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会
巻号頁・発行日
2018-07-10

1 0 0 0 GaNホモエピ膜のTR-PL信号における遅い時定数成分に対する数値解析

著者
加藤 正史 浅田 貴斗 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹
出版者
応用物理学会
雑誌
2018年第65回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2018-02-08

1 0 0 0 GaN 基板上 GaN エピ層キャリア再結合の遅い減衰

著者
(M1)浅田 貴斗 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2018年第65回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2018-02-08