Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
  1. ホーム
  2. 文献詳細

1 0 0 0 GaN 基板上 GaN エピ層キャリア再結合の遅い減衰

著者
(M1)浅田 貴斗 伊藤 健治 冨田 一義 成田 哲生 加地 徹 加藤 正史
出版者
応用物理学会
雑誌
2018年第65回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日
2018-02-08

言及状況

Twitter (1 users, 1 posts, 0 favorites)

【宣伝】2018年第65回応用物理学会春季学術講演会における加藤関連発表その２。GaNに対するキャリア再結合測定の報告。物理が少しずつわかってきました。/GaN 基板上 GaN エピ層キャリア再結合の遅い減衰 https://t.co/jaRpjl1WVz
0

収集済み URL リスト