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1 0 0 0 C-12-2 Evaluation of Temperature Effect on Leakage Current in NanoBridge-based FPGA

著者
白 旭 阪本 利司 辻 幸秀 森岡 あゆ香 宮村 信 多田 宗弘 伴野 直樹 岡本 浩一郎 井口 憲幸 波田 博光 杉林 直彦
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
巻号頁・発行日
vol.2015, no.2, 2015-08-25