C-12-2 Evaluation of Temperature Effect on Leakage Current in NanoBridge-based FPGA - 文献詳細 - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 C-12-2 Evaluation of Temperature Effect on Leakage Current in NanoBridge-based FPGA

著者: 白旭阪本利司辻幸秀森岡あゆ香宮村信多田宗弘伴野直樹岡本浩一郎井口憲幸波田博光杉林直彦
出版者: 一般社団法人電子情報通信学会
雑誌: 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
巻号頁・発行日: vol.2015, no.2, 2015-08-25

2016-12-16 19:28:33
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