著者

森川 大輔 津田 健治

出版者

日本結晶学会

雑誌

日本結晶学会誌 (ISSN:03694585)

巻号頁・発行日

vol.63, no.2, pp.135-142, 2021-05-31 (Released:2021-06-05)

参考文献数

36

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Convergent-beam electron diffraction (CBED) is one of the powerful tools for nano-meter scale structural analysis. From its specific futures such as nano-meter probe, dynamical scattering, and direct determination of electrostatic potential, CBED can be applied for space group determination, observation of orbital-ordered state, and local structure analysis. In this paper, some examples for recent results obtained by CBED method are described.

著者

田中通義 寺内正己 津田健治著

出版者

共立出版

巻号頁・発行日

2014

著者

津田 健治

出版者

日本結晶学会

雑誌

日本結晶学会誌 (ISSN:03694585)

巻号頁・発行日

vol.44, no.5, pp.269-276, 2002-10-31

参考文献数

16

被引用文献数

2

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A procedure for refining structural parameters and charge densities using convergent-beam electron diffraction (CBED) is described. The procedure is based on the nonlinear least-squares fitting between full dynamical calculations and energy-filtered intensities of two-dimensional higher-order Laue-zone (HOLZ) and zeroth-order Laue-zone (ZOLZ) CBED patterns.

著者

津田 健治 寺内 正己

出版者

東北大学

雑誌

基盤研究(B)

巻号頁・発行日

2008

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われわれが独自に開発してきた収束電子回折法による結晶構造解析法をベースとして, 試料のナノメーター領域から静電ポテンシャル分布を求める手法を新たに開発することに成功した. この方法をLiNbO_3等の強誘電体に適用して静電ポテンシャルを決定して強誘電分極を検出した. また, この方法を応用して強相関電子系物質の3d電子軌道の秩序の可視化にも成功した.

著者

寺内 正己 津田 健治 小形 曜一郎 佐藤 庸平 津田 健治 小形 曜一郎 佐藤 庸平

出版者

東北大学

雑誌

特定領域研究

巻号頁・発行日

2007

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電子顕微鏡法を用いて構造・組成評価を行った良質な試料領域から構造・電子状態の研究を行い、ボロンナノベルト、ゼオライトカーボン、ポリマー重合C_<60>、LiドープαボロンおよびMgB_4の特徴的な電子状態の存在を明らかにした。また、分光CBED法による価電子分布の異方性検出、EELSによるナノ粒子の近赤外応答の解析、異方的SXES計測による価電子分布の異方性の検出などの解析手法の高精度化を実現した。