1 0 0 0 OA 品質損失のもとでの計量規準型繰返グループ抜取検査の設計
- 著者
- 友廣 亮介 有薗 育生 竹本 康彦
- 出版者
- 公益社団法人 日本経営工学会
- 雑誌
- 日本経営工学会論文誌 (ISSN:13422618)
- 巻号頁・発行日
- vol.64, no.4, pp.519-529, 2014 (Released:2014-03-05)
- 参考文献数
- 15
従来,ロット品質はロット中の不適合品数や不適合品率といった計数特性に基づき評価されてきた.一方,不適合品率などの従来の計数特性に基づく品質評価基準に代わる新しい品質評価基準として,計量特性に基づく“品質損失”の概念がTaguchiにより提案された.これを受けて,Arizono et al.は品質損失に関する品質保証の観点にたった新しい計量規準型一回抜取検査を提案している.ところで,検査に要するサンプル数に関して,一回抜取検査でのサンプル・サイズからの削減を目的として,一回抜取検査に代わる繰返グループ抜取検査が考案され,近年でも盛んに研究成果が報告されている.この点に鑑み,本研究では,Arizono et al.による品質損失に関する品質を保証する新しい計量抜取検査の実用性の拡張を考慮して,品質損失に基づく計量規準型繰返グループ抜取検査の設計問題について考察する.