著者
岡本 耕太 清水 裕史 津田 英隆 仲 美津子 伏見 祥子 堀口 泰
出版者
一般社団法人 情報科学技術協会
雑誌
情報の科学と技術 (ISSN:09133801)
巻号頁・発行日
vol.66, no.7, pp.345-351, 2016-07-01 (Released:2016-07-01)

近年,企業活動における情報分析の重要性が大きくなっている。本稿は,筆者らは空気清浄機を開発,製造,販売する電機メーカA社の経営企画担当者であると仮定して,公開情報(製品,特許,論文など)を分析して新事業創出のための提案を作成する手法の検討を行った。手法の検討にあたっては,以下(1)~(3)の観点からのアプローチを行った。(1)A社空気清浄機技術の強み,(2)空気清浄機技術と既存技術の組み合わせ,(3)社会ニーズに対応する次世代技術
著者
加藤 治 津田 英隆
出版者
一般社団法人 情報科学技術協会
雑誌
情報プロフェッショナルシンポジウム予稿集 第11回情報プロフェッショナルシンポジウム
巻号頁・発行日
pp.151-154, 2014 (Released:2014-11-17)
参考文献数
10

某食品企業の研究開発のプレスリリースに着目し、有価証券報告書でも当該企業が該当技術に注力している状況を確認した。その後、当該技術の情報を JDream III 等により収集した。また、マニュアルで当該論文の引用情報を含めて時系列順に再整理すると、社会的な課題、国による規制、国研を中心とした研究開発等が、民間に技術として波及し、社会に還元されている状況(情報循環)を見出すことができた。
著者
津田 英隆 白井 英大 寺邊 正大 橋本 和夫 篠原 歩
出版者
一般社団法人 電気学会
雑誌
電気学会論文誌D(産業応用部門誌) (ISSN:09136339)
巻号頁・発行日
vol.129, no.12, pp.1201-1211, 2009-12-01 (Released:2009-12-01)
参考文献数
11
被引用文献数
4 5

The conventional semiconductor yield analysis is a hypothesis verification process, which heavily depends on engineers' knowledge. Data mining methodology, on the other hand, is a hypothesis discovery process that is free from this constraint. This paper proposes a data mining method for semiconductor yield analysis, which consists of the following two phases: discovering hypothetical failure causes by regression tree analysis and verifying the hypotheses by visualizing the measured data based on engineers' knowledge. It is shown, through experiment under the real environment, that the proposed method detects hypothetical failure causes, which were considered practically impossible to detect, and that yield improvement is achieved by taking preventive actions based on the detected failure causes.