著者

川原 昭文 東 亮太郎 池田 雄一郎 河合 賢 加藤 佳一 早川 幸夫 辻 清孝 米田 慎一 姫野 敦史 島川 一彦 高木 剛 三河 巧 青野 邦年

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.112, no.15, pp.13-18, 2012-04-16

被引用文献数

1

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TaOxを用いたReRAMの高速な書換え性能とクロスポイントメモリセルアレイ構成におけるスニーク電流を低減する書込みアーキテクチャにより、443MB/s(サイクル時間17.2ns、64bit並列)と、従来比約2倍の高速な書込みを実現する0.18μm 8Mbit多層クロスポイント型ReRAMマクロを開発した。

著者

髙田 裕司 上野 遼平 Ramin Banan Sadeghian 永沼 香織 辻 清孝 藤本 和也 横川 隆司

出版者

一般社団法人 電気学会

雑誌

電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌) (ISSN:13418939)

巻号頁・発行日

vol.142, no.2, pp.21-28, 2022-02-01 (Released:2022-02-01)

参考文献数

14

被引用文献数

1

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We developed a bi-channel microfluidic device integrated with a four-probe electrode system to measure the trans-epithelial electrical resistance (TEER). Time course of TEER was monitored when the extracellular Ca2+ was removed and replenished both from the upper and lower channels. We showed that tight junctions were disrupted rapidly once Ca2+ was removed from the basal side. However, when Ca2+ was removed from the apical side such disruption progressed slowly. Upon replenishing Ca2+ content at the basal side the TEER recovery pace was also faster than the case of replenishing it at the apical side. We conclude that cell polarity needs to be taken into account during the process of Ca2+ removal/replacement in explaining the dynamics of tight junction disruption/recovery. These results indicate that our approach can be utilized in detecting cell polarity in real time and low invasion.