- 著者
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横谷 明徳
黒川 悠索
鵜飼 正敏
- 出版者
- 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
- 雑誌
- 基盤研究(B)
- 巻号頁・発行日
- 2020-04-01
突然変異等など放射線による遺伝的変異の主要な要因であるDNAの分子損傷のメカニズムを、物理化学的観点から解明する。このため、DNAの電子状態に焦点を当て、ミクロな世界を支配する量子的性質と分子損傷の相関を実験と理論の両面から探る。特にハロゲンなど重い元素をDNAに取り込ませた生体に現れる高い放射線感受性のメカニズムを解明し、量子的観点から放射線増感剤の効果を制御するための技術開発に資する知見を得る。