著者

二川 清

出版者

日本文学協会

雑誌

日本文学 (ISSN:03869903)

巻号頁・発行日

vol.37, no.8, pp.19-29, 1988

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江戸期を通じ明治の中頃まで、盛んに上演された歌舞伎の小栗判官ものは、明治中期以後約半世紀以上の間忘れ去られてしまい、近年復活上演されるようになった。説経節の小栗を母体とする歌舞伎の小栗判官ものは、浄瑠璃から移入されやがて歌舞伎独自の形を造り上げて行き、天保頃に一貫したストーリーをもった通し狂言として成立したと考えられるが、この成立過程における読本や、近松の浄瑠璃の影響を考察し、読本や浄瑠璃から取り入れられた新たな諸要素の持つ意味、及びそれと原説経の精神との関連を探ってみた。

著者

二川 清

出版者

日本信頼性学会

雑誌

日本信頼性学会誌 : 信頼性 (ISSN:09192697)

巻号頁・発行日

vol.35, no.3, pp.162-165, 2013-06-01

著者

山下 将嗣 二川 清 斗内 政吉 大谷 知行 川瀬 晃道

出版者

一般社団法人 レーザー学会

雑誌

レーザー研究 (ISSN:03870200)

巻号頁・発行日

vol.33, no.12, pp.855-859, 2005-12-15 (Released:2014-03-26)

参考文献数

10

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Inspection and failure analysis of large-scale integrated circuits (LSI) have become a critical issue, as there is an increasing demand for quality and reliability in LSIs. Recently, we have proposed a laser THz emission microscope (LTEM) for inspecting electrical failures in LSIs, which detects the THz emission from LSIs by scanning them with femtosecond laser pulses. We successfully obtained the THz emission image of MOSFETs without bias voltage. We also measured MOSFETs in which the connection lines from the electrodes to the p-n junctions were interrupted, and found that the polarity of the temporal waveform of the THz emission from the pn junction in damaged MOSFETs has the opposite sign compared to that in normal MOSFETs. This result indicates that the LTEM can be used for the inspection of MOSFETs without bias voltage, which is attractive for the testing of semiconductor devices during the manufacturing process.